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薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀LJD系列 介電常數(shù)測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角（D或tanδ） 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

LJD系列高低頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進行高低頻介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角（D或tanδ） 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

LJD型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

LJD型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀值測量范圍: 2 ～ 1023,量程分檔：30100﹑300﹑1000，自動換檔或手動換檔固有誤差:≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差:≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

陶瓷材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GB/T1409在主機電感端子上插上和測試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時電感取100uH，15MHz時電感取1.5uH。

GB/T1409介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀介紹是我公司 研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能

介電常數(shù)測定儀LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀又稱介電常數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測試儀。作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。 測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。

介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 10KHZ-70MHZ *2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù) 3．Q值測量范圍：1～1023 4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；